二手 JEOL JSM 6600FXV #9098215 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 9098215
Scanning Electron Microscope (SEM)
Part number: D39562000
Imaging and control system
Manuals included
Power: 200 VAC, 30 A, Single phase, 6 kVA.
JEOL JSM 6600FXV是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於材料的高分辨率成像和分析。它是一種頂級工具，針對電子束顯微鏡下的性能進行了優化。該顯微鏡使用場發射電子槍與集成常規磁性物鏡設備進行操作。此外,JSM 6600FXV還具有固態EDX檢測器系統（用於軸上能量色散X射線光譜）和用於捕獲低噪聲成像的高靈敏度數字信號處理器。SEM由一個可控加速電壓範圍為0.5至30kV的超高真空環境和一個高靈敏度的高分辨率顯示單元組成。它有一個帶有X, Y, Z樣板驅動單元的樣板室和一個用於樣品定位和傾斜調節功能的樣板架。其樣品持有者可以容納尺寸可達220 x 200 mm的樣品。顯微鏡還配備了先進的圖像處理機，為數據收集和處理提供了靈活性。JEOL JSM 6600FXV配備了豐富的分析特性，包括電子束感應電流（EBIC）工具、用於元素分析的EDX功能，以及可用於在微觀尺度上表征材料的化學映射函數。EBIC資產使研究人員能夠檢測和測量樣本中的局部電氣類型和電流。EDX使用戶能夠實現樣品表面的高靈敏度化學分析，化學圖功能使用戶能夠分析樣品內元素的空間分布。在從高真空到高壓氣體的各種條件下以及在掃描液池模式下對樣品進行成像的能力使JSM 6600FXV成為一種通用儀器。此外，JEOL JSM 6600FXV先進的電子槍允許在分析條件下操作，這意味著該顯微鏡產生的結果和圖像質量最高。JSM 6600FXV是一種先進的掃描電子顯微鏡,針對材料的高分辨率成像和分析進行了優化.它提供了現場發射電子槍、EDX檢測器模型、圖像處理設備、EBIC系統等多種特性，成為材料表征的寶貴工具。
還沒有評論