二手 JEOL JSM 6610LA #293758763 待售

JEOL JSM 6610LA掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能分析工具，設計用於從材料科學到生命科學的一系列子學科的科學研究。JSM 6610LA能夠放大樣品表面多達90萬次,並以各種方式獲取圖像。它能夠產生3D光學斷層圖、表面電影、陰極發光、二次電子和反向散射電子圖像。JEOL JSM 6610LA具有高真空環境和小室.這種環境確保電子束能更深入地穿透樣品而不會受到汙染。其電子動力柱具有冷陰極型電子發射器和靜電透鏡設備，使其能夠在相對較低的電流下進行高分辨率成像。它還設計了一個能量過濾系統，使用戶能夠控制傳送到樣品的電子能量。這樣可以確保電子以用戶所需的精確方式與樣品相互作用。設備的大腔室允許用戶根據樣品的狀態來測量高達120 x 120 mm和480x480mm的樣品。其最大樣本大小為10 x 10mm，可讓用戶快速掃描大樣本。JSM 6610LA還具有多種用戶友好的功能,例如圖像處理包,它允許用戶以直觀的方式處理所獲取的圖像。在分析能力方面，JEOL JSM 6610LA配備了EDS（能量色散光譜）機，可用於獲取X射線信號和識別樣品中的元素。該工具還產生元素映射，顯示元素在樣本中的分布。EDS資產可用於測量樣品的化學成分及其整體成分。JSM 6610LA還包括激光二次離子質譜（SIMS）模型，用於分析樣品表面。該設備可用於檢測樣品上存在氫氣、氧氣和氮氣等原子。SIMS系統也可以用來測量存在於表面和大量樣品中的金屬原子的濃度。總體而言，JEOL JSM 6610LA是一種精密的掃描電子顯微鏡，具有一系列的功能。它用途廣泛,為用戶提供了一系列功能。它可用於獲取樣品的高分辨率圖像或分析其表面和體積成分。該設備可靠、直觀、易於使用。