二手 JEOL JSM 6610LA #9410816 待售

JEOL JSM 6610LA是一種掃描電子顯微鏡（SEM），旨在以超高放大倍率提供樣品表面的高分辨率圖像。它配備了能散X射線分析系統（EDX），能夠以細胞分辨率分析樣品元素。該系統可用於檢查材料的結構、樣品表面的化學性質以及樣品組成的親密性質。顯微鏡的放大倍率高達x 50,000，最小分辨率為0.8 nm。它使用鎢絲電子源，在很寬的能量範圍內提供電子。冷凝器透鏡使用可變強度散光，可以更好地聚焦光束，而不會在高放大率下造成樣品變形。該設計還具有孔徑角止動裝置，為控制電子束的大小提供了可變極高。試樣級可以使用X-Y-Z驅動機構移動，使試樣能夠被推拉相對於電子束移動。舞臺可容納高達390mm × 305mm的樣品，可傾斜至± 50°。還配備了一個自動舞臺以允許自動掃描。JSM 6610LA有一個電荷補償器，以減少靜電力的影響，可以扭曲樣品圖像。這在成像塑料等非導電樣品時特別有用。SEM軟件旨在提供高精度的數字圖像和數據。它可以存儲操作參數和結果供將來參考。它還能夠進行數據分析，可用於檢測樣品元素隨時間的變化。JEOL JSM 6610LA為用戶提供用於研究和工業領域的成像性能。它具有高分辨率的成像功能、靈活的舞臺驅動機制和強大的數據分析軟件,使其成為一個非常有價值的成像工具。