二手 JEOL JSM 6610LV #9410899 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6610LV
ID: 9410899
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS Detector.
JEOL JSM 6610LV是一種掃描電子顯微鏡(SEM),具有先進的成像和分析能力。該6610LV是一款高性能的SEM,能夠產生分辨率低至1.3納米的高分辨率圖像。它配有一個大腔室,適用於分析最大樣本量可達200毫米直徑的大而厚的樣品。該6610LV提供了多種功能,例如高精度掃描、高度自動化、易於使用的操作系統和高水平的靈活性。與其他SEM相比,SEM的倒置設計允許擴大工作面積、增加樣本量和提高真空水平。該6610LV還支持廣泛的探測器,即二次電子(SE-1)、反向散射電子(BSE)、能量色散光譜(EDS)等。高性能掃描電子顯微鏡JEOL JSM 6610 LV能夠實現高分辨率成像和分析。它支持卓越的分析和觀察功能,適用於需要高分辨率成像和分析功能的各種用戶。JSM 6610LV具有擴展的工作區域和較大的腔室尺寸,支持各種樣本量和應用。此外,SEM高度自動化,操作簡單。因此,6610LV是進行成像和分析材料研究的理想工具。
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