二手 JEOL JSM 6700 #293768635 待售

JEOL JSM 6700
製造商
JEOL
模型
JSM 6700
ID: 293768635
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6700是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於材料科學、地質、生命科學等領域。它提供了直觀的用戶界面和卓越的圖像質量,使用戶能夠輕松進行復雜的研究。JSM 6700的高分辨率功能使其成為檢測、測量和分析微觀特征的強大工具。SEM利用鎢絲電子源,產生聚焦電子束。該束被引導到樣品表面上,第二組電子被探測器發射和收集。這將生成樣本的圖像,其中包含有關地形、組成和其他特征的信息。JEOL JSM 6700能夠產生分辨率小於1nm的圖像,是高分辨率成像應用的理想選擇。該儀器還支持各種不同應用的成像模式,如亮場、暗場、反向散射以及一些更專業的模式。通過將成像模式及其高分辨率功能相結合,JSM 6700甚至可以產生最復雜特征的圖像。JEOL JSM 6700還提供了一系列高級功能來增強用戶的體驗,包括多光束成像、傾斜校正、自動圖像縫合和線/點光譜。多光束成像功能使用戶能夠在更短的時間內收集更多數據。傾斜校正功能可確保以一定角度拍攝樣本的圖像的質量,並且自動圖像縫合允許用戶從多個較小的圖像創建單個大全景圖像。最後,線/點光譜法提供了樣品的詳細化學分析。除了成像能力外,JSM 6700還設有能量色散X射線探測器(EDXD),用於分析樣品的元素組成。檢測器與合適的濾鏡和透鏡結合,產生檢查樣品所必需的信號。這對於材料表征等應用尤其有用。總而言之,JEOL JSM 6700是一款功能強大的SEM,提供高分辨率成像功能、高級成像模式以及包括EDXD在內的其他功能。這對於尋找可靠、能幹的工具的研究者來說是一個絕佳的選擇。
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