二手 JEOL JSM 6700F #293598389 待售

JEOL JSM 6700F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於與材料、生物分子和其他納米材料相關的行業的研發應用。這種高分辨率顯微鏡對一次電子束產生的二次電子進行操作，並配有有助於提高SEM圖像分辨率和精度的場發射槍。利用一種稱為場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）的技術，JEOL JSM 6700 F提供了一種高度相幹和低能電子束，能夠分解到亞納米範圍內的特征。JSM 6700F利用極片式靜電透鏡和一系列冷凝器透鏡對電子束進行聚焦，使儀器的精度和精度達到前所未有的水平。高級功能（如其特點的數字信號處理器（DSP）有助於減少有害的散射,並以增強的穩定性生成清晰的圖像。JSM 6700 F還具有利用其高級階段進行三個維度掃描的能力，使用戶能夠找到更深層次的樣品，更好地洞察材料的內部結構。這使得它非常適合成像細胞、組織研究和納米材料等應用。JEOL JSM 6700F的二次電子探測器（SED）也能夠產生高質量的圖像。該技術配合反向散射電子（BSE）檢測器，以高電子散射角分析和成像區域，允許構建樣品的三維圖像。與其他SEM相比,這種高精度探測器還具有產生更高圖像分辨率的額外優點。JEOL JSM 6700 F功能強大,為用戶提供了廣泛的功能,包括實時顯微鏡顯示、自動對焦、壓力調節成像、增強的空氣屏蔽和低光學像差校正。該儀器幾乎可用於任何工業環境，如半導體、航空航天和生物醫學，強烈建議用於研究和/或開發應用。