二手 JEOL JSM 6700F #293600930 待售

JEOL JSM 6700F
製造商
JEOL
模型
JSM 6700F
ID: 293600930
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6700F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),旨在提供樣品表面的詳細圖像。它具有非凡的分辨力、高度的精確度和執行廣泛分析技術的能力。該儀器有一個可變壓力充電器,用於將內部大氣保持在低真空狀態,使用戶能夠進行獨立於樣品導電特性或特征的SE成像和EDX分析。通過利用入射電子束在樣品上產生的二次電子和反向散射電子,JEOL JSM 6700 F使用戶能夠獲得對非導電樣品的高分辨率成像和定量微觀分析。JSM 6700F配備了自動聚焦功能,可調節樣品的焦點,提供最佳成像條件。其火炮和物鏡設計提供了出色的分析性能,特別是與能量色散X射線設備的能量範圍擴大相結合。利用能量色散X射線(EDX)系統,JSM 6700 F能夠提供高達百萬分之幾百的元素靈敏度(p.p.m.)。SEM集成了現代數碼相機,它使用慢速掃描和高速圖像記錄運動樣本成像,使其能夠提供卓越的分辨率圖像,並顯示樣品微觀結構的清晰而清晰的細節。可以調整記錄時間的長度,從而進一步對具有動態特征的樣品或可能需要較長時間才能達到穩定狀態的樣品進行成像。JEOL JSM 6700F的用戶友好軟件便於儀器操作。它包括一個用於重建掃描樣本的三維形狀的繪圖單元、一個用於圖像管理的庫機以及用於定量分析的Multi-Element Analysis Applications軟件。JEOL JSM 6700 F是研究和分析樣品材料的工程師和科學家的寶貴工具。通過提供樣品微觀結構的詳細和準確的圖景,儀器使用戶能夠進行準確的觀察和洞察樣品材料,使其成為研究表面特性、材料科學和納米技術應用的寶貴工具。
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