二手 JEOL JSM 6700F #293608930 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6700F
ID: 293608930
優質的: 2011
Scanning Electron Microscope (SEM) 2011 vintage.
JEOL JSM 6700F是一種場發射掃描電子顯微鏡(FESEM),憑借其單色電子光學系統提供了非凡的成像能力。它能夠獲得具有壯觀景深的高分辨率圖像。JEOL JSM 6700 F憑借高質量的光學和先進的信號處理,實現了極好的空間分辨率,在運行模式下高達50 nm,盡管其加速電壓僅為1.2 kV。JSM 6700F使用反向散射電子(BSE)捕獲具有驚人細節水平的樣品圖像。樣品可以在各種各樣的條件和制備技術中觀察到,例如幹燥樣品或液體細胞。JSM 6700 F的動態範圍超過五個數量級,甚至能夠檢測樣品不同點之間最微弱的對比。這允許在觀測中提供大量細節,揭示形態和/或組成變化的證據。JEOL JSM 6700F還有一個先進的4軸測角儀,提供高度精確的樣品操作。這樣就可以對樣品進行大細節的分析,尤其是那些尺寸很小的樣品。樣品也可以原位分析。JEOL JSM 6700 F具有獨特的特性組合,例如專用於原位觀測的真空級,允許在不同的受控溫度和壓力下進行分析。這使得該儀器可用於原位摩擦學、電化學實驗或其他經歷溫度或壓力變化的實驗。由於其低加速電壓和可變壓力環境,JSM 6700F特別適合研究對電子輻射敏感的樣品,如有機材料。JSM 6700 F裝有瀏覽器模式,在顯示屏上以圖形用戶界面呈現觀察到的圖像。此顯示器顯示的是觀測的角度視圖,而不是標準的線性視圖,它可以更好地表示示例。JEOL JSM 6700F擁有高度自動化的操作,即使對於新手用戶也很容易使用。圖像采集和分析過程都可以自動化以節省時間,從而允許用戶編輯序列和參數,而無需重新運行整個成像過程。總之,JEOL JSM 6700 F是一種先進、精密的掃描電子顯微鏡,提供了前所未有的細節水平的微觀成像能力,非常適合原位和異位材料的研究。
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