二手 JEOL JSM 6700F #293636522 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6700F
ID: 293636522
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Control table Manual.
JEOL JSM 6700F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),旨在提供對各種樣品類型的高質量成像和分析。此SEM提供出色的分辨率和高景深,可實現高達60,000倍的放大倍數,並提供至少20 µm的驚人景深。JEOL JSM 6700 F配備了200-30kV電壓範圍和1-7mm可調節的光斑尺寸。此外,這種SEM模型具有較高的主動光束運行時間占空比,允許長時間不間斷地成像大型樣品。JSM 6700F具有高級反向散射掃描模式,允許減少成像過程中的偽影。該機構的工作原理與掃描儀的光柵工藝相同,使每條水平線都有多個點源,比光柵技術獲得更高的分辨率。這種SEM模型還具有內置的數字信號處理,使信號對噪聲的靈敏度得到改善,同時減少了樣本圖像中的偽影。JSM 6700 F也可以升級為EDS Microchamber,提供簡單可靠的自動頻譜收集和分析。JEOL JSM 6700F的用戶界面設計為直觀易用,允許用戶快速設置和獲取圖像。該模型還配備了真空室,能夠在不影響圖像質量和分辨率的情況下對空氣敏感樣品進行分析。總體而言,JEOL JSM 6700 F提供卓越的分辨率和景深,並具有一系列功能,使其能夠執行高質量的成像和分析。這種SEM模型能夠在多種條件下運行,使其成為生物學、材料科學和工程學領域研究人員的理想選擇。
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