二手 JEOL JSM 6700F #293652431 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 6700F
ID: 293652431
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDS Detector.
JEOL JSM 6700F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於產生樣品表面結構的高分辨率圖像。它能夠產生可用於詳細分析或教育目的的高質量數字圖像。JEOL JSM 6700 F利用聚焦電子束掃描樣品表面,產生二次電子和反向散射電子圖像。初級電子束是使用電子槍產生的,電子槍從鎢絲產生微細的電子發射。然後,根據所需的分辨率,在電場內加速此光束。然後使用靜電透鏡系統聚焦光束,允許亞微米分辨率成像。JSM 6700F具有一系列增強性能和分析能力的功能。它配備了動態聚焦和柱頭優化成像。它還有一個探針電流控制系統來維持圖像穩定性,同時顯示最多三個不同信號的選項,數字圖像處理,以及一個用於能量色散光譜的後濺射單元。JSM 6700 F也提供人性化操作。除傳統參數外,儀器還包括自動映射和預設模式等功能。用戶還可以利用分析工具的範圍,如硬度映射、相位識別和色散對比成像。放大圖像以單色或彩色生成,具體取決於用戶選擇的模式。圖像可以導出為高分辨率或低分辨率文件,並與其他用戶共享。JEOL JSM 6700F具有卓越的性能和全面的特點,是分析和教育需求的絕佳選擇。
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