二手 JEOL JSM 6700F #293655231 待售

JEOL JSM 6700F掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於觀察和分析各種樣品的高性能儀器。由於其精細的探針尺寸和較長的工作距離，它提供了卓越的圖像質量和分辨率。該6700F采用冷場發射槍（CFE gun），產生高質量的圖像，具有優越的景深和極好的分辨率，放大倍數可達300,000倍。CFE槍產生低電子束電流，允許在低電壓下運行，從而增加儀器的工作距離，可達100毫米。該6700F還具有25mm x 25mm的大固態成像面積，能夠產生包括反向散射電子探測器（BED）和鏡頭內（IL）成像在內的各種對比度。此外，6700F可以配備可選的第二級檢測器，以反射和透射兩種模式提供二次電子成像。59mm的樣品室可以容納直徑可達55mm的樣品。樣品室還具有自動控制和樣品交換功能，可選配負載鎖、冷凍冷卻臺和冷卻臺等配件。此外，該6700F具有優越的分析性能與可選的EDS系統專門為套件設計。EDS系統可以提供材料的元素分析，用於測量碳、氧和硫等輕元素。JEOL 6700F也是一個自動化的SEM，配備了掃描探針圖像和分析（SPIA）和高級掃描螺旋顯微鏡（SAM）功能。SPIA通過將較大區域的線掃描和成像模式相結合，為納米級表征提供3D成像，而SAM則允許對分辨率為0.1nm的微量元素進行分析。6700F也是一個X射線光子光譜（XPS）顯微鏡，它能夠從表面收集高分辨率的X射線光譜。光譜文件可用於分析樣品表面的元素組成和鍵合狀態。總體而言，JEOL JSM 6700 F是一種通用的儀器，用於對各種樣品進行成像和分析。它的冷場發射槍、3D成像功能、自動化樣本室控制和XPS功能使其成為各學科研究人員的理想選擇。