二手 JEOL JSM 6700F #293672256 待售

JEOL JSM 6700F掃描電子顯微鏡（SEM）是一種前沿設備,旨在為用戶提供一種功能強大而精確的工具,用於在納米級表征材料的結構和組成。JEOL JSM 6700 F包含一系列功能和組件,以確保最高質量的成像和分析。JSM 6700F設備是圍繞一個具有一系列數字自動化功能的全自動系統構建的。智能SEM功能即使在要求最苛刻的應用程序中也能實現快速、準確的操作。顯微鏡具有高通量掃描控制單元以及集成的熱流控制機和先進的柱上自動對焦機構。這些功能結合在一起,可創建自動化、精確的成像和分析功能。顯微鏡有場發射槍（FEG），能夠產生高解析度的影像。這種槍的擴展角低，焦深長，發散度低，放大倍率大。JSM 6700 F還附有可變壓力級（VPS）。這一階段可以調整到不同範圍的大氣壓，從而有可能在不同的細節層次上分析標本。顯微鏡配有高分辨率二次電子探測器和亮場探測器。這些探測器可用於一系列成像、分析和測量操作，如識別高對比度區域、檢測表面特征或裂縫以及繪制線掃描。JEOL JSM 6700F還附帶了一系列用於數據分析和表示的軟件工具。這些工具允許用戶收集、繪制和分析來自一系列標本類型的數據。這包括圖像變換、圖像融合以及從圖像創建三維表示的能力。此外，JEOL JSM 6700 F包含了一系列可以進一步提升顯微鏡能力的選項。其中包括場發射檢測器、氧電池和柱加熱器，以及一系列樣品制備配件。這些附加功能有助於提高顯微鏡成像和分析操作的準確性和分辨率。總體而言，JSM 6700F掃描電子顯微鏡是一種功能強大、用途廣泛的納米級研究和分析工具。對於那些希望獲得卓越的成像和分析性能水平的人來說,這是一個理想的選擇。