二手 JEOL JSM 6700F #293754691 待售

JEOL JSM 6700F是一種利用二次電子（SE）產生高分辨率圖像的掃描電子顯微鏡（SEM）。SEM配備了ETL可變壓力SEM （VP-SEM）特性，導致電子發射壓力降低，允許增加試樣的景深和分辨率。通過使用0.1 Pa到10 Pa的可變壓力，可以在一定範圍的環境條件下對樣品進行研究。JEOL JSM 6700 F的加速電壓為0.1至30 kV，這導致了最大對比度成像的高動態範圍。該SEM提供了溫度範圍在0 C到135 C之間、真空溫度在10-3 Pa之間的高性能環境室,此外,該模型還采用了高靈敏度反向散射電子探測器（BSE）和EDX系統,能夠對樣品進行高精度的元素組成分析。JSM 6700F能夠收集用於通過電子斷層掃描創建3D圖像的數字數據。此SEM還產生二次電子（SE）以及來回掃描功能。SE呈現高對比度圖像,而來回掃描功能允許重復掃描樣本。高性能場發射源對樣品的小特征和地形具有較高的靈敏度，具有優異的高分辨率成像效果。JSM 6700 F配備了較大的工作距離選項，可以同時觀看整個珠面。此外,此SEM還具有在單個聚焦平面上生成多個圖像的獨特能力,將分析和成像結合在一起。這些特性,加上高靈敏度探測器,使JEOL JSM 6700F廣泛應用的理想選擇,特別是高分辨率成像、超分辨率成像、環境掃描和EDX。總之，JEOL JSM 6700 F是各種工業、生物醫學和學術研究用途的優秀SEM選擇。