二手 JEOL JSM 6700F #293775754 待售

JEOL JSM 6700F是一種具有場發射槍（FEG）的掃描電子顯微鏡（SEM），允許觀測到納米尺度以下的樣品。該SEM中的電子源是一個FEG，它提供了比熱電子發射器更穩定、更高的電流和更高的分辨率，從而提高了圖像分辨率。此SEM專為成像、元素分析和自動化操作而設計。JEOL JSM 6700 F具有30至30kV的工作電壓範圍和高度可靠的液氮冷卻系統。系統在可變壓力（VP）或可變真空（VV）模式下運行。在VP模式下可能有1.2nm的下限檢測，而在VV模式下則可以低至2.1nm。JSM 6700F的放大範圍為10倍至500kX倍。在VP模式下,最大視場為400mm, 15kV時最大分辨率為1.2 nm。對於自動操作，JSM 6700 F配備了自動換樣器（ASC）。此ASC允許快速更改樣品設置,從而大大提高樣品吞吐量和分析精度。JEOL JSM 6700F也可以從外部計算機控制，進一步提高潛在的數據采集速度。JEOL JSM 6700 F可用於高放大成像、元素分析、EBSD（電子反向散射衍射）和自動化樣品分析等多種應用。它具有用於標準成像的二次電子（SE）檢測器、用於分析非導電材料的反向散射電子（BSE）檢測器、用於元素分析的能量色散X射線（EDX）檢測器和提供三維圖像的大深度場檢測器。除了成像能力外，JSM 6700F還能夠進行X射線微分析。EDX探測器能夠對納米級的材料進行元素分析，提供精確到超過1%的結果。JSM 6700 F適用於研究應用、研發、質量保證和故障分析.此SEM的采樣功能和內置自動化功能使分析和數據收集能夠快速輕松。