二手 JEOL JSM 6700F #293813761 待售

JEOL JSM 6700F掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能分析儀器,專為提供卓越的成像和分析結果而設計。SEM結合了出色的分辨率、高對比度和高速自動化操作,可用於材料科學、納米技術、半導體制造和法證分析等多個行業中要求最苛刻的分析應用。SEM利用幾何像差校正場發射電子槍提供卓越的圖像分辨率和分析性能。最先進的電子槍能夠進行高精度分析，最大分辨率可降至1納米。這使得觀測和測量微米和亞微米的特點與驚人的清晰度和偉大的細節。JEOL JSM 6700 F能夠在高放大倍率下產生STEM圖像,而圖像質量不會下降,這要歸功於其可變的光斑大小控制,使用戶能夠精確調整光束大小以符合樣品的要求。可變斑點尺寸控制還允許對具有不同表面地形的樣品進行高效成像，如聚合物和陶瓷。SEM還以高達每秒16,500個樣本的快速掃描速率運行。SEM配備了幾個高級軟件包,允許用戶完全自定義其映像和分析需求。易於使用的圖形用戶界面使控制SEM和優化掃描參數以最大化分辨率和動力學變得簡單。軟件包包括JEOL自己的EasyCV和AAS，以及LextriX和Analyzing Power等第三方軟件選項。SEM操作環境友好,其高效的冷卻系統確保了系統在長時間連續運行中的最佳性能。此外，SEM的設計是為了最大限度地減少氙氣供應和能源的消耗，允許用戶在設備的長期保養上節省成本。為了保證最高性能在任何時候，JSM 6700F配備了強大的振動補償系統。系統仔細控制梁的對準和航向，確保即使周圍環境受到振動或其他外部因素的影響，SEM的焦點也保持精確。JSM 6700 F掃描電子顯微鏡是一種高性能分析儀器，旨在提供盡可能高的分辨率和分析。其尖端技術結合了出色的分辨率和對比以及先進的軟件功能,使其成為各種要求苛刻的應用程序的完美解決方案。