二手 JEOL JSM 6700F #46262 待售
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單擊可縮放
ID: 46262
晶圓大小: 8"
優質的: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM), 8"
Specimen holders
High end HP computer hardware
Nitrogen source
Either from bottled cylinder / Produced by N2 generator
Accessories
2006 vintage.
JEOL JSM 6700F是一種功能廣泛的多功能掃描電子顯微鏡（SEM）。SEM旨在提供最高分辨率的成像和分析功能,並利用多種技術的組合來實現其卓越的性能。JEOL JSM 6700 F配備了場發射槍（FEG）電子源，提供優於傳統熱電子電子源的亮度和分辨率。此功能能夠對更多種類的樣品執行更高分辨率的成像和元素分析。設備還配備了可調、立體的舞臺，以增加靈活性。此階段允許精確的樣本處理和成像,以及勘測和點擊自動區域掃描功能。顯微鏡還配備了電子反射圖像（REPIM）檢測器，設計用於檢測樣品反射的高能電子。這一特征允許對更廣泛的形態進行成像，並提供比其他探測器更高分辨率的高對比度圖像。REPIM檢測器還可以通過提供更充分定義的元素輪廓,對樣品進行快速、簡單和準確的元素分析。該系統還配備了數字脈沖處理器（DPP），能夠檢測和處理精細電子，並為動態樣品分析提供快速、可靠、準確的時間相關成像。DPP還能夠探測到細膩的電子，為連續運行提供穩定的分析。該單元的其他功能包括內置高速網絡連接的計算機、實時參數顯示、圖像縮放等。這些功能結合在一起,為JSM提供6700F強大而可靠的性能。JSM 6700 F是一種強大可靠的掃描電子顯微鏡，對各種樣品進行高分辨率成像和元素分析。該機器配備了各種各樣的功能，使其成為研究和工業應用的理想選擇。它結合了FEG、REPIM和DPP技術以及用戶友好的控制，可以進行全面的樣本分析，使其成為科學家和工程師的通用可靠工具。
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