二手 JEOL JSM 6700F #9226660 待售

JEOL JSM 6700F
製造商
JEOL
模型
JSM 6700F
ID: 9226660
優質的: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM) 2007 vintage.
JEOL JSM 6700F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),由分析儀器和電子光學技術的國際領導者JEOL Ltd.設計制造。它是一種高分辨率的SEM,專為納米級電子束成像而設計。JEOL JSM 6700 F配備兩極磁場發射槍,使高亮度電子源提供極致性能和分辨率。高壓加速電壓範圍為0.1 kV至30 kV,提供了介於-20攝氏度至+5攝氏度之間的廣譜波長兼容性和工作溫度,適合廣泛應用。JSM 6700F配備了一個冷場發射(CFE)電子源,在低壓下工作時提供最大亮度和穩定性。它還具有高分辨率場發射槍(FEG)和0.14納米點直徑,可以成像小樣品,如分子結構。這種顯微鏡能夠產生高放大倍率、高速掃描和低噪聲性能的高分辨率圖像。高級成像功能(包括自動對焦和傾斜校正、高精度自動柱頭和自動圖像縫合),可確保即使是復雜的樣本也能以高精度成像,從而提供詳細的3D視圖。JSM 6700 F也與一系列探測器兼容,包括STEM和陰極發光探測器,以及能量色散X射線探測器。為確保靈活性和多功能性,顯微鏡還可配備一個附設的環境室,用於在-100攝氏度至+100攝氏度的溫度範圍內成像樣品。此外,JEOL JSM 6700F包括內置的數字成像功能,允許用戶輕松記錄、存儲和分析圖像。JEOL JSM 6700 F是一種理想的掃描電子顯微鏡,具有在納米級成像各種樣品所需的特性、能力和性能。JSM 6700F具有先進的成像特性和靈活性,是許多行業研究人員和分析實驗室的理想成像解決方案。
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