二手 JEOL JSM 6700F #9233189 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 6700F
ID: 9233189
優質的: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1 nm at 15 kV 2.2 nm at 1 kV Magnification: 25x - 650,000x Sample size: 40 mm (D) x 20 mm (H) Movement range: X: 70 mm Y: 50 mm Z: 1.5-25 mm Tilt: -5°-60° Rotation: 0°-360° Voltage: 0.5 kV - 30 kV (in 0.1 kV Step) OXFORD 7421 Energy Dispersive Spectrometer (EDS) Si-Li Detector Window: 10 mm² ULVAC G-100DC Vacuum pump 120 ml/min PHOENIXTEC C-6000 UPS, 6 kVA EYELA CA-1111 Circulating chiller Range: -20°C to 30°C Watt: 1200 W (1030 kcal/h) HP / HEWLETT-PACKARD XW4300 Computer Intel Pentium 4: 3.0 GHz RAM: 512 MB Hard Disk Drive (HDD): 500 GB Operating system: Windows XP HP / HEWLETT-PACKARD DC 7100 Computer Intel Pentium 4: 3.0 GHz RAM: 512 MB Hard Disk Drive (HDD): 500 GB Operating system: Windows XP HP / HEWLETT-PACKARD L1910 LCD Monitor, 19" HP / HEWLETT-PACKARD LE1911 LCD Monitor, 19" 2006 vintage.
JEOL JSM 6700F掃描電子顯微鏡(SEM)在單個儀器中結合了出色的成像和分析能力。它能夠提供大放大倍數的高質量圖像。該系統配備了冷場發射槍(FEG),這是電子槍設計的最新技術。這種FEG提供了明亮的高分辨率電子束,能夠使用從1kV到30kV的電子能量,使其適合多種材料。它還以0.5nm的掃描分辨率提供高分辨率成像。JEOL JSM 6700 F具有一個大腔室,其工作階段可容納直徑可達8英寸的樣品。為了進一步提高其靈活性,可以添加可選配件,包括標準樣品支架、晶圓基板和自動化操作的電動級。JSM 6700F的高級功能允許它用於各種應用程序。它的高分辨率允許對樣品表面的精細細節進行成像。它也可用於能量色散X射線(EDX)光譜、俄歇光譜和電子捕獲技術的組成分析。此外,它的大腔室和自動化舞臺使得它適合3D成像和地形分析,允許用戶分析和成像整個樣本。JSM 6700 F除了出色的成像和分析能力外,還配備了多種安全功能,保證用戶在操作時的保護。它包括真空互鎖系統、緊急停止開關和過載保護系統。JEOL JSM 6700F是一款功能廣泛、功能強大的SEM,具有出色的成像和分析能力。其明亮的電子束、大腔室和各種配件使其得以廣泛應用。它還具有多種安全功能,可保護用戶的安全。
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