二手 JEOL JSM 6700F #9244394 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

製造商
JEOL
模型
JSM 6700F
ID: 9244394
優質的: 2003
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Cold field emission source Range: 0.5-30 kV Magnification: 25x - 650,000x (Working distance, 8 mm) Load lock Sample introduction chamber Stage controller Upgraded to Windows 7 Detectors: SEI IL SEI Back scatter 2003 vintage.
JEOL JSM 6700F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),在廣泛的應用中為高性能成像而設計。這款SEM配備了先進的野外發射槍,能夠提供分辨率高達1 nm的高質量圖像。該儀器采用電子槍組件設計,該組件具有增強的聚焦和對準能力,可產生最精確的樣品圖像。該儀器配備了液氮冷卻的冷凍設備,使研究需要冷卻到低溫的生物樣品成為可能。它配有集成激光幹涉儀,可以測量級運動的精度,減少測量誤差。儀器使用Field Embedded Autotrigger系統來捕獲高分辨率圖像。它具有先進的樣品制備裝置,既可以加熱也可以冷卻樣品,使研究人員能夠研究溫度對樣品結構的影響。JEOL JSM 6700 F具有高動態範圍檢測器,產生高對比度、低噪聲水平的圖像。為了進一步提高圖像的分辨率,用戶可以探索使用電子束電荷補償(EBCC)機的可能性,該機是一種控制電子束中電子以改善對比度的裝置。該儀器安裝的高級軟件具有高級導航、舞臺控制和自動特征識別功能。該軟件還帶有粒子識別和排序功能,使用戶能夠從圖像中研究微小的細節。SEM附帶了一個高級3D數據集堆棧重建工具,它允許研究人員從SEM的2D圖像創建3D重建。此工具有助於創建示例結構的3D插圖。總體而言,JSM 6700F是一種非常好的掃描電子顯微鏡,可以滿足各種研究需要。通過結合先進的硬件和軟件功能,該儀器可以產生具有出色分辨率的高質量圖像,使研究人員能夠詳細研究樣品。
還沒有評論