二手 JEOL JSM 6700F #9248482 待售

JEOL JSM 6700F掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的成像和分析儀器,用於表征1 µm至50 µm的粒子。它具有卓越的成像能力,可放大5,000倍,並具有物理真空密封室,可安全重復操作。JEOL JSM 6700 F是一種專用的SEM，通過其電子柱提供出色的標本清晰度。該設備采用了最新的電子光學技術，使用戶能夠輕松快速地觀察各種大小和形狀的粒子。SEM旨在適應各種樣本量、配置和樣品安裝技術,在各種材料和條件下提供最佳成像功能。JSM 6700F具有集成的可變壓力chambel和獨特的第二代可變壓力探測器設計。這種功能組合通過最小化充電效果來提供圖像清晰度和保留。SEM的可變壓力探測器設計也允許在非常低的壓力水平下操作，允許用戶捕獲各種材料和微觀結構的詳細圖像，而不考慮樣本量。JSM 6700 F采用多種模式和技術，從簡單的固定中間放大倍率到高分辨率顯微照相。它配備了一系列特定於模式的探測器和成像工具，可以在各種各樣的樣品環境中使用，包括傳統的實驗室設置。SEM還允許在各種連續和脈沖發射模式下運行，並允許用戶在不同的操作參數之間切換。SEM的能量色散X射線光譜儀（EDS）促進了詳細和高分辨率的元素分析。JEOL JSM 6700F還包括一些自動對準和校準功能,以確保一致和可靠的性能。此外，JEOL JSM 6700 F配備了一系列高端功能，可以讓用戶高效管理自己的數據和結果。SEM具有易於使用的數據管理系統和集成的報告功能,使用戶能夠快速輕松地報告其結果。總體而言,JSM 6700F是一種先進且功能豐富的SEM,可輕松可靠地對1 µm至50 µm的粒子進行成像和分析。集成的探測器和成像工具結合了自動對準和校準功能以及數據管理功能,為用戶提供了一個全面的成像和分析平臺,可確保一致和準確的結果。