二手 JEOL JSM 6700F #9294954 待售

JEOL JSM 6700F是一種來自JEOL的掃描電子顯微鏡（SEM）。它是一種先進的微觀成像和分析儀器，能夠產生高分辨率二次和反向散射電子圖像。設備配有大型標本室和四軸機動級，允許對標本進行精確的導航控制。此外，系統還提供高放大倍率和低真空性能。JEOL JSM 6700 F可用於以高達250,000 x的放大倍數分析表面和材料。電子束是螺旋掃描的，允許使用者控制電子探針的大小和形狀。此外，該單元還配備了亮場和差分幹涉對比度（DIC）光學機器，允許在三個維度上觀察小細節。該工具還配備了一系列探測器，允許捕獲各種不同的圖像類型。其中包括二次電子探測器、反向散射電子探測器、EDS探測器、SE2探測器、俄歇探測器和陰極發光探測器。利用這些探測器，用戶能夠分析各種材料並研究不同的表面特征。用戶還可以在儀器上添加各種選項，包括自動圖像縫合器、高真空操作、溫度控制級、應變量具分析資產和氣體註入模型。這些選項將允許用戶擴展各種應用程序的JSM 6700F功能。最後，JSM 6700 F設備附帶了先進的軟件，允許儀器的完全控制和自動化。該軟件還提供數據分析和成像工具，包括生成電子探測器圖的工具。這使得系統成為高級表面分析和成像的理想選擇。