二手 JEOL JSM 6700F #9356046 待售

JEOL JSM 6700Fis一種高性能場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）。它配備了多模探測器，能夠在二次和反向散射電子模式下成像。這使得顯微鏡可以同時用於成像和分析應用。顯微鏡還裝有可「插拔」的柱內孔徑系統。這有助於角度相關成像與可變光束收斂允許精細細節在復雜的樣品進行解析。主FESEM成像具有良好的圖像質量和靈活性。這要歸功於其超高亮度源以及加速電壓和光束電流等可調節的工作參數。FESEM還具有完全數字化的硬件和軟件控制,可以通過用戶界面遠程操作。FESEM還配備了自動級掃描系統。這允許在多個方向上掃描示例,並具有自動到位置的可重復性。舞臺還有一個集成的真空旋轉舞臺，用於3D成像功能。JEOL 6700F FESEM還具有多種分析技術。它可以用於能量色散X射線光譜（EDS）和波長色散X射線光譜（WEDS）。這些工具可以提供樣本成分的元素分析（定性和定量）。此外，FESEM還可用於電子能量損失光譜（EELS）測量，用於鑒定和量化樣品中的不同化學鍵。總體而言,JEOL JSM 6700F是一種功能強大且用途廣泛的工具,可用於分析成像和分析應用中的材料。它的高性能特點和進行精密分析測量的能力使其成為材料科學、納米技術和半導體器件制造領域研究人員的寶貴儀器。