二手 JEOL JSM 6700F #9402131 待售
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ID: 9402131
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Computer control
Imaging
Semi in-lens
Resolution: 1280 x 1024 Pixels
EDS with variety of detectors
GUI Interface
Mouse
Operating system: Windows 7
Cold cathode field emission electron gun
Electromagnetic deflection alignment
Conical objective lens
Conical FE Gun
Specimen chamber, 8"
Resolution:
1.0 nm at 15 kV
2.2 nm at 1 kV
Magnification:
LM Mode: 25 - 19,000
SEM Mode: 100 - 650,000
Modes of operation:
Secondary Electron (SE) mode
With lower SE Detector
In-Lens detector with voltage filter
Backscattered Electron (BSE) mode
With retractable solid state
THERMONORAN VANTAGE X-Ray microanalysis system
Power supply:
Accelerating voltage: 0.5 - 30kV
Specimen illumination current: 10^-13A to 2 x 10^-9A.
JEOL JSM 6700F是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM）。這種特殊的SEM用途廣泛,具有高級成像功能,是許多高級成像應用程序的絕佳選擇。JEOL JSM 6700 F采用場發射槍（FEG）電子源設計構造，確保了優異的能量分辨率和最小的束流。該型號配備了Everard Tilly鏡頭內離子探測器和OMISA Omnispectral探測器，提供了最佳的圖像聚焦和質量，同時提供了廣泛的成像能力。JSM 6700F的其他特點包括數字掃描控制系統、亮光照明器、具有衍射能力的離子探測器和高分辨率數碼相機系統。JSM 6700 F能夠提供高達1.5 nm或更低的出色成像分辨率,非常適合復雜的應用,如細胞結構和粒子表面地形的小規模成像。此外，它的自動掃描控制系統允許快速和精確的樣本導航和成像，從而提高效率和可靠性。該模型還具有場發射和二次電子成像功能，使用戶能夠捕捉地形和組成細節。JEOL JSM 6700F是一個強大、可靠和通用的SEM,旨在滿足最高的成像和分析要求。它是尋求對各種樣品進行詳細成像和分析的理想工具，從細胞和納米粒子到材料和集成電路。該型號具有用於增強成像控制的數碼相機、用於樣品查看的亮光照明器以及廣泛的成像和分析能力，使其成為廣泛實驗應用的理想選擇。
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