二手 JEOL JSM 7000F #293622852 待售

JEOL JSM 7000F
製造商
JEOL
模型
JSM 7000F
ID: 293622852
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 7000F是掃描電子顯微鏡(SEM)的一種.它是一種高性能設備,可提供前所未有的分辨率和分析性能,使用戶能夠輕松地詳細觀察和分析微觀結構。先進的JEOL JSM 7000 F光學系統提供了清晰、高對比度的精細細節成像。該單元配備了一個CCD攝像頭,提供高分辨率圖像和強大的光學放大率。JSM 7000F設計用於氫型和差分模分析。它能夠檢測高度詳細的微量元素。該機器還配備了全自動自動化成像工具,能夠快速、精確地捕獲圖像數據。JSM 7000 F還能夠進行多次能量色散X射線(EDX)光譜分析。EDX光譜用於分析微米級元素組成和其他微觀特征。這允許識別樣本中存在的元素及其大小和相對強度。該700F還能夠進行涉及檢查半導體的EDX光譜研究。JEOL JSM 7000F也設計用於高分辨率掃描電子顯微鏡(HR-SEM)應用。該資產配有高分辨率柱控制單元(HRCCU),能夠精確控制探測器分辨率和放大功率。這允許精確映射微米級信號,以及在高分辨率圖像中捕獲它們。JEOL JSM 7000 F還包括許多性能提升組件,如自動級傾斜控制單元,這使得模型可以進一步分析樣本。該設備的軟件還提供了廣泛的圖像處理和分析工具,以幫助評估數據和增進對所研究結構的了解。總體而言,JSM 7000F是一種強大的掃描電子顯微鏡,可以提供微觀結構的詳細圖像和測量。其先進的光學系統、自動化成像單元和各種性能增強組件使其成為電子顯微鏡的理想機器。
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