二手 JEOL JSM 7000F #293634856 待售

JEOL JSM 7000F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於觀察多種材料的表面和結構。設備裝備齊全，可以處理先進的成像和分析需求，如3 D表面成像、高分辨率成像、EDS、WDS、高分辨率晶格成像、X射線映射等等。SEM技術是檢查從有機到無機、金屬、礦物、晶體等多種材料的寶貴工具。例如，JEOL JSM 7000 F能夠在使用鎢絲電子源時產生分辨率大於3 nm的圖像。它具有10,000 μ m/s的超高掃描速度,可以快速掃描物體,而高真空室則可以更詳細地檢查較大的區域。這一系統的其他特點還包括UPS野外發射槍（FEG），能夠對尺寸小至2 nm的樣品進行高分辨率成像，由於操作壓力較低而性能更快，以及進行現場實驗的潛力。該單元包括各種成像配件，如幹涉濾波器、舞臺立管和固定器，以及實驗期間可用於操縱元件的其他機械元件。此外，先進的能量色散光譜學（EDS）、波長色散光譜學（WDS）和X射線映射功能允許用戶對他們的樣本進行更詳細的分析。在分析應用方面，JSM 7000F可用於對多種材料進行元素映射，如金屬、合金、生物材料、半導體等等。它能夠在原子和納米級的水平上成像材料，加上FEG槍可以對更小的物體成像。再者，機器配備了多種軟件包，允許用戶捕獲、分析和操縱來自不同樣本類型的圖像。總體而言，JSM 7000 F是一種先進可靠的掃描電子顯微鏡，適用於從成像到元素映射的一系列應用。它的功能,例如超高分辨率增強用戶功能,使其成為滿足高級成像和分析需求的理想選擇。