二手 JEOL JSM 7000F #293649519 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 7000F
ID: 293649519
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 7000F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),具有無與倫比的成像能力、準確性和易用性。JEOL JSM 7000 F利用先進的場發射掃描電子源提供卓越的圖像質量,提供最佳分辨率和對比度,同時保持用戶安全。這種掃描電子顯微鏡能夠在高真空、低真空和環境模式下操作,使研究人員能夠精確分析來自所有制度的小樣本。顯微鏡提供了幾個有用的特點,快速和容易操作。自動對焦系統可確保清晰清晰的圖像,從而使用戶只需單擊即可快速將焦點集中在示例上。這臺顯微鏡還配備了一個自動化的樣本導航系統,使用戶能夠精確對準他們的樣本,從而產生更清晰、更詳細的圖像。JSM 7000F提供了廣泛的圖像分析功能,使用戶能夠測量距離、檢測組件以及查看樣本與其環境之間的關系。它的電子束隧道檢測器使看不見的結構元件被精確捕獲,而其3D光學顯示則允許對表面地形進行分析。其環境SEM還允許對受控條件下的樣品進行分析,使研究人員能夠觀察其自然狀態下的生物和其他物質。JSM 7000 F可以配備一系列專用探測器,允許對任何指定區域或元素進行精確成像。利用先進的能量色散X射線光譜(EDS)能力和同時進行的EDS/SEM分析,研究人員可以獲得對其樣品元素組成和分布的快速準確的分析。這臺掃描電子顯微鏡還配備了先進的硬件設計,能夠快速準確地檢索圖像,使研究人員能夠快速、輕松地記錄其結果並與他人分享。JEOL JSM 7000F是一種先進的SEM,設計滿足顯微鏡最嚴格的要求。其先進的成像能力,加上易於操作和廣泛的潛在應用,使其成為當今研究實驗室的理想選擇。JEOL JSM 7000 F具有可訪問的價位和令人印象深刻的功能列表,是任何希望將其成像功能提升到新水平的研究人員的絕佳選擇。
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