二手 JEOL JSM 7000F #293732137 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 7000F
ID: 293732137
Field Emission Scanning Electron Microscopes (FE-SEM).
JEOL JSM 7000F掃描電子顯微鏡(SEM)是一種分析儀器,用於在極高放大倍率下對樣品進行成像和表征。它通過掃描標本上的聚焦電子束並生成其與標本相互作用的信號來工作,然後將其用於形成圖像。JEOL JSM 7000 F是一種場發射源SEM,提供優異的能量分辨率、低電流密度和出色的光束穩定性。這種穩定性增強了圖像分辨率,並允許用戶獲取高靈敏度的詳細圖像。JSM 7000F主要有三個組件:電子光柱、掃描發生器和探測器系統。電子光學柱容納產生和聚焦電子束的元件,包括電子源、冷凝器透鏡、中間和物鏡以及樣品進出縫隙。掃描發生器負責控制x、y運動模式中的光束,以便從樣品中獲取數字化圖像。最後,探測器系統包括二級和反向散射電子探測器,以及為元素和X射線成像開發的探測器。JSM 7000 F具有廣泛的功能,包括二次電子(SE)成像和低真空SE(LVSEM)成像這兩種標準模式,以及更先進的模式如反向散射檢測器(BSE)成像、低真空BSE成像、分析電子-x成像顯微鏡。它還具有一個自動化的舞臺,在x、y和z方向上實現了機動行駛,允許用戶以高精度捕獲圖像,而無需手動重新集中。此外,JEOL JSM 7000F具有高達0.01 eV的高能量分辨率,能夠對樣品進行深度和詳細的成像。JEOL JSM 7000 F是成像和分析多種標本類型的絕佳選擇,非常適合材料科學實驗室、醫學研究和設備制造。其優越的穩定性和能源分辨率,以及先進的能力和自動化分期,使其成為任何領域研究人員的可靠而有力的儀器。
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