二手 JEOL JSM 7000F #293748718 待售
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ID: 293748718
優質的: 2012
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Electron gun: Schottky field emission
Electromagnetic deflection
Conical objective lens
Specimen chamber, 8"
Working distance: 2 to 40 mm
Specimen illumination: 0.1 pA to 10 nA
Resolution:1.2 nm at 30kV to 3 nm at 1kV
Magnification:
LM Mode: 10x to 19,000x
SEM Mode: 100x to 500,000x
Power supply: 0.5 to 30kV.
JEOL JSM 7000F是JEOL開發的掃描電子顯微鏡（SEM），作為其掃描電子顯微鏡7000F系列的一部分。它是以前6000F的更新版本,並具有高級功能,可實現精確的成像和分析。JEOL JSM 7000 F是一種溫度控制的SEM，利用冷場發射器產生聚焦的電子束。該波束被引導到樣本，然後與6000F模型相比返回增強信號。這使7000F能夠獲得更高的分辨率。此外,由於改進了聚焦深度,7000F能夠生成更精確和增強的樣品3D圖像。其自動聚焦啟用系統（AFES）有助於實現每張圖像的最佳聚焦。JSM 7000F還利用其較大的工作距離（標本與物鏡之間的距離可達33mm）來產生清晰的圖像,而不需要樣品與透鏡直接接觸。這種較大的工作距離使得7000F非常適合成像容易損壞的樣品，例如納米材料。JSM 7000 F還具有自動化階段,在移動樣品時可提高穩定性和可靠性。加上它的高柔韌性，可以用來研究廣泛的樣本，包括各種形狀和大小的材料。該7000F還能夠調查高溫材料，以及冷凍樣品到-100攝氏度。這是通過使用Gatan Enfinium冷凍級和液氮冷卻配件實現的，允許使用者拍攝被冷凍的樣品的高質量圖像。JEOL JSM 7000F能夠生成詳細的高分辨率圖像,並且仍然是研究幾乎任何類型的成像和分析樣本的有效工具。其改進的信噪比、靈活的設計和自動化的階段，仍然是一個重要的儀器，幫助研究人員調查樣品的準確性和精確度。
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