二手 JEOL JSM 7000F #293811118 待售

JEOL JSM 7000F是一種掃描電子顯微鏡，用於成像和分析材料科學中樣品的物理和化學成分。SEM使用聚焦電子束掃描樣品，生成放大圖像和元素圖，其精度和分辨率均達到納米級。這種特殊型號的SEM配備了三束炮，它提供了各種成像和分析應用所需的一系列光束能量和電流密度。它裝有冷場發射槍（FEG），源的陽極電壓範圍10-30kV，最大分辨率為3nm。FEG提供的附加光束電流可顯著改善圖像對比度和分辨率。該7000F具有全自動采樣階段、集成的自動導航、自動EDS和GridLine掃描,以及加速的駐留時間,可實現高速成像。它還與各種樣品類型兼容，包括薄膜、納米結構、半導體和有機材料，以及用於元素分析的能量色散X射線光譜（EDS）。該7000F采用專用的高速圖像處理卡和高光圈鏡頭系統，能夠快速、準確地跟蹤和處理圖像。該卡還可以輕松集成一系列接口和應用,如自動導航、高分辨率成像、反向散射電子成像、自動目標區域掃描和元素映射。該7000F具有先進的成像能力,並采用高質量的材料構建,以最大限度地提高其耐用性和性能。其集成的探測器和電子設備非常適合成像和分析需求，而直觀的界面則便於操作和控制。總體而言,JEOL JSM 7000 F是一款高度先進的SEM,它為各種材料提供無與倫比的成像和分析功能。其先進的特性、直觀的界面和全面的性能使這種顯微鏡成為材料研究人員和應用如故障分析、質量控制、納米材料表征等的理想選擇。