二手 JEOL JSM 7000F #293824803 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
JEOL JSM 7000F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於亞微米級的成像和分析。它配備了包括高分辨率成像、分析能力和冷場發射槍（FEG）在內的先進功能。JEOL JSM 7000 F利用FEG作為其電子源，為STEM成像和低kV EDX等低壓應用提供了更高的亮度和更好的性能。JSM 7000F配備高分辨率凹面鏡，在高達30kV的高壓下運行。它能夠在15kV時產生分辨率為1.0 nm的高分辨率成像。此外,JSM 7000 F可以在靜態和動態掃描模式下運行,這為SEM用戶提供了多功能性。JEOL JSM 7000F還可以配備EDX、WDX、CL等全方位探測器和分析系統。由於電子槍在較冷的溫度下運作，因此能夠更大的穩定性，導致EDX的性能得到改善。WDX和CL還提供了被研究樣品的增強元素和組成信息。對於成像，JEOL JSM 7000 F根據應用使用了一系列操作模式。SEM成像分別通過標準二次電子（SEM）和反向散射電子（BSE）實現低對比度和高對比度圖像。此外，顯微鏡還可以在掃描透射電子顯微鏡（STEM）模式下成像，提供微米大小物體的橫截面成像。總之，JSM 7000F是一種堅固、高分辨率的掃描電子顯微鏡，具有很好的成像和分析能力。先進的FEG電子源提供卓越的性能，其靜態和動態掃描模式使其成為許多應用的理想儀器。
還沒有評論