二手 JEOL JSM 7000F #9145727 待售

JEOL JSM 7000F是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），專為卓越的成像和精確的分析能力而設計。它配備了場發射電子源和環境友好型Tribo-gun™，用於提高入射電子電流和改進對比度。與傳統的SEM相比，該光束具有最大的30kV加速電壓，可提供優異的分辨率和更大的聚焦深度。其他特徵包括冷場排放、1-2nm左右的小斑點大小、高亮度和最小散光。JEOL JSM 7000 F為廣泛的材料和應用提供獨特的成像能力，包括半導體、納米材料、復合材料、醫學標本等等。電子源為高導電和/或磁性材料在比典型的SEM系統更低的電壓下成像提供了出色的超低壓成像。高分辨率成像功能允許您輕松地識別細微的特征和缺陷,而優越的景深允許對樣品的任何部分進行可靠的定量測量。顯微鏡還配備了同軸炮透鏡系統，工作距離為12-36mm。這使用戶能夠輕松快速地更改工作距離和分辨率。JSM 7000F還配備了自動化對比度和亮度調整、多個視圖領域的同時成像以及自動對焦調整等高級成像工具。出於分析目的，JSM 7000 F配備了完全集成的EDS探測器。這種能量色散光譜技術經過優化，可以在廣泛的應用中進行快速、準確的元素分析。精密采樣級為掃描和X射線映射提供了平穩、快速的運動。總體而言，JEOL JSM 7000F是一種功能強大的高性能SEM，能夠為各種樣品提供出色的成像和準確的分析。其先進的電子源、精密樣品級和集成的EDS檢測器使其成為成像和元素分析的理想解決方案。