二手 JEOL JSM 7000F #9227135 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 7000F
ID: 9227135
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 7000F是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),為操作員提供全面的分析能力和卓越的成像分辨率。該儀器具有超高真空(UHV)系統,先進的對比度技術和廣泛的分析配件。因此,JEOL JSM 7000 F被廣泛用於多種應用,如神經科學研究、材料科學、工業故障分析和法醫調查。JSM 7000F具有20 mm的間隙大小和廣泛的支持電流範圍,允許用戶以高分辨率和精細的細節檢驗樣品。該儀器的場發射源還可以實現更高分辨率的成像和更低的工作電壓,從而產生更高的信噪比和改進的對比度。此外,特高壓系統提供了良好的樣品穩定性,方便快速和容易樣品加載/卸載。JSM 7000 F可用的分析成分包括電子反向散射衍射(EBSD)、能量色散X射線光譜(EDS)、X射線映射和電子誘導X射線發射(EIKE)能力。這些組成部分使儀器能夠迅速獲得有關樣品結構、組成和特性的詳細信息。JEOL JSM 7000F還可以與SPM探測器和補充技術(如拉曼光譜法)集成,以進一步增強其分析能力。JEOL JSM 7000 F配備了眾多軟件控制工具,讓用戶能夠監控、優化和最大化顯微鏡的性能。提供的一些軟件控制包括圖像堆叠、自動圖像縫合和視頻記錄。這使用戶能夠輕松地捕獲數據以供後續分析。顯微鏡還具有直觀的用戶界面,使操作員能夠快速訪問所有控件和功能。總體而言,JSM 7000F對於那些為高級分析研究尋求強大、高性能SEM的用戶來說是一個極好的選擇。該儀器具有超高壓系統、廣泛的分析能力和直觀的軟件,為各種應用提供了優異的效果。
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