二手 JEOL JSM 7000F #9279675 待售
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ID: 9279675
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Computer
Detectors:
Secondary Electron Image (SEI)
Backscatter (BEI-TOPO/COMPO)
Electron Backscatter Diffraction Detector (EBSD).
JEOL JSM 7000F是一種低壓場發射掃描電子顯微鏡（SEM）。它是一個強大的工具，用於高放大倍數的表面成像和分析，允許對從軟生物材料到硬金屬和陶瓷物質的一系列材料進行高分辨率成像。JEOL JSM 7000 F使用肖特基電子場發射槍，允許發射背景噪聲較低的高亮度電子。這可實現卓越的分辨率和對比度,圖像分辨率高達2nm。高級軟件系統進一步增強了SEM的高成像質量，具有一系列預設功能，可以針對不同類型的分析進行定制。JSM 7000F還具有可變壓力室，它能夠在從高真空到大氣層的壓力下運行。這允許在原生環境中觀測標本，同時觀察高壓對觀測和二次電子信號的影響。這個SEM的其他特徵包括一個大型的標本室，有機動的標本階段和一個大的視野（高達50毫米），允許研究更大的樣本。高速數字圖像采集系統允許使用廣泛的成像技術，如反向散射電子（BSE）、組成圖（EDX）和相位/晶體學（EBSD）捕獲每秒最多五幀。SEM非常用戶友好,具有觸摸屏顯示屏和直觀的用戶界面,使用戶能夠輕松配置不同的設置和測量值。它還配有一系列專用配件，如探測器、標本架、樣品制備系統和成像系統，允許為特定類型的分析定制JSM 7000 F。總體而言,JEOL JSM 7000F是一款用途極為廣泛、功能強大的SEM,具有高分辨率成像和分析功能、可調壓力室和用戶友好界面。這些特性使其成為從材料科學到生命科學等各種成像和分析應用的理想儀器。
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