二手 JEOL JSM 7001F #293606612 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 7001F
ID: 293606612
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 7001F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),具有先進的自動化系統,能夠在環境和受控超高真空模式下提供可靠和可重現的圖像。它具有場發射電子槍、980mm的大工作距離、5 x 10-7 Torr的真空、高達4.0nm的分辨率以及用於限制信息丟失的數碼相機。場發射電子槍由燈絲、聚焦柵極和極點片組成,使光束加速電壓從0.05到30 keV。這種槍可以增加電子的限制,允許高放大倍率和快速工作速度的高分辨率成像。較大的工作距離允許使用標準的SE和BSE檢測器,以及較新的EDX檢測器,樣品不必接觸舞臺,降低了受到汙染的風險。真空系統由一個旋轉泵和一個擴散泵組成,結合起來,在柱內達到5x10-7 Torr的超高真空。JEOL JSM-7001F在加速電壓為5-15keV時的分辨率為4.0nm,即使是樣品中最小的特征也能成像。JSM 7001F包括一臺數碼相機,以確保準確獲取和存儲圖像。它還具有FIB(聚焦離子束)能力,能夠對樣品進行精確的橫截面分析。此SEM配備了自動導航等功能,可幫助快速查找示例中感興趣的功能或在兩點之間進行測量。這種功能能夠更快地分析樣本,尤其是在需要獲取或比較多個圖像時。總之,JSM-7001F是一臺先進的掃描電子顯微鏡,配有場發射電子槍,工作距離大達980mm,超高真空為5 x 10-7 Torr,加速電壓為5-15keV時分辨率為4.0nm,還有數碼相機。此SEM能夠進行精確的FIB分析和自動導航,並設計用於快速分析多個圖像。
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