二手 JEOL JSM 7001F #293815937 待售

JEOL JSM 7001F掃描電子顯微鏡（SEM）是一種對納米級材料進行表征的高度先進的分析儀器。此模型提供出色的分辨率,空間分辨率為1.0 nm,最小特征尺寸降至0.7 nm。電子束用於通過掃描樣品表面並檢測從樣品反向散射的電子來創建圖像。該儀器能夠產生單色和彩色二次電子圖像（SEIs）以及高分辨率的反向散射電子圖像（BSEs）。可以實現多種分析技術，包括能量色散光譜（EDS）、高角度環形暗場成像（HAADF-STEM）、電子反向散射衍射（EBSD）。顯微鏡配有防汙染裝置，用於減少樣品因電子束而產生的表面充電。JEOL 7001F SEM還具有三向原位階段操作功能,可以從多個方向觀察特征,而無需手動移動樣品或物鏡。該系統擁有20 keV的野外發射槍，提供高水平的光束電流穩定性和較低的圖像漂移速率，保證了SEI對比度和亮度的穩定性。此外，顯微鏡使用最新的電子光學器件，能夠達到最高水平的樣品分析精度和細節。顯微鏡可以與幾個成像和分析軟件套件集成在一起，允許廣泛的測量和分析能力。JEOL 7001F SEM是材料科學納米級研究的絕佳選擇，因為它具有很高的準確性、通用性和效率。