二手 JEOL JSM 7001F #9260022 待售

JEOL JSM 7001F
製造商
JEOL
模型
JSM 7001F
ID: 9260022
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 7001F是一種利用電子束成像獲得樣品高分辨率圖像的掃描電子顯微鏡(SEM)。它的特點是在樣品室旁邊有一根鎢絲,允許高能電子通過燈絲,從而允許更大的放大倍數。JEOL JSM-7001F可以放大樣品高達200,000x,其電子束的光斑大小為4nm。其真空系統允許高度穩定的操作和卓越的圖像質量。顯微鏡配有標準的低真空、超低壓和可變壓力系統。它的低和超低真空系統降低了Cs校正器冷凝器的孔徑,以允許原子級成像質量。可變壓力設備有助於保持空氣和水敏樣品觀測的最佳條件,並使用戶能夠根據需要調整壓力。JSM 7001F具有數字控制系統和帶雙通道顯示機的數字成像單元。階段運動的位置精度為0.1 µm,樣品室可以充滿多種氣體,如氮氣或​​的氙氣。此外,JSM-7001F還提供自動超高真空能力。特殊的自動化超高真空能力使試樣完全不能移動,便於對電子束進行精確成像和操作,以檢查極小的試樣特征。JEOL JSM 7001F還包括各種選項、附件和探測器,以實現最大的靈活性。JEOL JSM-7001F能夠檢測多個信號,包括二次電子和反向散射電子,從而提供出色的地形對比度。它還包括一個室內熒光探測器,允許元素組成的測定。圖像工具包括包括各種數字選項的選項。總體而言,JSM 7001F是一種高性能掃描電子顯微鏡,利用電子束成像,為觀測範圍廣泛的樣品提供出色的分辨率和對比度。顯微鏡的數字控制資產、高精度以及隨附的配件,使其成為顯微鏡領域的寶貴工具。
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