二手 JEOL JSM 7001F #9267101 待售

JEOL JSM 7001F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於材料科學、生物學和工業分析領域的多種顯微鏡應用。憑借其EverVon成像設備、高分辨率BSE檢測器、集成X射線能量色散光譜（EDS）系統以及可選的高分辨率EDS單元，是探索微觀結構的強大設備。JEOL JSM-7001F的高分辨率成像能力源於其柱內電子光學，該光學具有EverVon二次電子探測器。此檢測器生成非常高分辨率的曲面和接口圖像,提供對樣本組件的詳細了解。集成的X射線EDS機器能夠檢測多達10個元素,空間分辨率高達0.3 μ m。這使用戶能夠快速輕松地繪制樣品中的元素，並獲得有關其化學成分的更多信息。此外,可選的高分辨率EDS工具可檢測分辨率為0.2 μ m或更高的多達63個元素。JSM 7001F具有靈活的色譜柱設計，允許廣泛的樣品持有者，包括橫截面、透射電子顯微鏡和X射線微分析的樣本持有者。掃描級機動化，並裝有用於定位樣品的B軸傾斜裝置。B軸傾斜不需要單獨的測角儀。電動掃描階段還為用戶提供了對樣品定位和移動的精確控制。在操作環境方面，JSM-7001F完全封閉，具有「智能」真空泵，可根據樣品需求自動調節操作壓力。此外,EverVon成像資產還具有數字成像和圖像增強功能。最後，JEOL JSM 7001F配備了一系列用於切換、掃描和數據采集參數的自動化模式。總之，JEOL JSM-7001F是各種顯微鏡應用的理想選擇。其高分辨率成像能力、集成的二次和X射線EDS系統,以及自動化模式允許對樣品的結構和化學成分進行高效而完整的探索。