二手 JEOL JSM 700D #9103836 待售

JEOL JSM 700D是一種通用、高性能的掃描電子顯微鏡（SEM），常用於材料科學研究。這種掃描電子顯微鏡被設計成圖像樣品的表面特征在分辨率高達2納米。JSM 700D與多種探測器系統一起運作，包括everhart-thornley探測器、二次電子探測器和eds探測器。通過透鏡內電子光學，顯微鏡能夠放大在極高的分辨率-超過300,000X。JEOL JSM 700D掃描電子顯微鏡使用鎢絲電子槍，產生直徑1.5納米的高能電子束。這束光束隨後通過一系列透鏡傳輸，進一步將其直徑縮小到0.4至5納米的範圍。然後，這種高分辨率電子束會以不同的放大倍數在樣品上柵格化，使用戶能夠以前所未有的深度和細節捕獲圖像。JSM 700D有幾個額外的功能，使其在其他掃描電子顯微鏡中脫穎而出。例如，該模型具有可變壓力級，可以讓研究人員在不損壞樣品的情況下對陶瓷材料的細膩晶體或表面層進行成像。可變壓力功能還通過減輕表面充電效果來提高圖像質量。JEOL JSM 700D掃描電子顯微鏡還包括一個自動化階段，提供方便的樣品定位和調節。通常，這個樣本階段可以配備XYZ-Axis機動階段，讓科研人員能夠精確調整樣本場或掃描整個樣本表面。綜上所述，JSM 700D是一種功能強大的掃描電子顯微鏡，旨在促進材料科學研究。它令人難以置信的分辨率、可變壓力級和先進的掃描自動化使這臺儀器成為材料和納米技術研究的理想工具。