二手 JEOL JSM 7200F #9376080 待售

JEOL JSM 7200F掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於高分辨率和高通量成像分析的通用儀器。適用於廣泛的應用，從材料科學到生物研究和工業檢驗。JSM 7200F利用電子光學器件和電子探測器陣列，制作出納米級樣品的詳細圖像。它的場發射槍電子源提供遠束電流，即使在極低的放大倍率下，允許對硬和軟材料都進行詳細的成像。JEOL JSM 7200F還包含一系列自動化分析功能。能量色散X射線光譜（EDS）和波長色散X射線光譜（WDS）提供了樣品的化學信息，而自動圖像處理程序（MAPS）給出了樣品地形的精確三維測量。JSM 7200F具有幾種高分辨率成像模式，包括SEI和BSE，它們分別針對表面成像和弱吸收元件進行了優化。反向散射探測器（BAD）模式產生厚生物截面的高度敏感圖像，而斷層掃描掃描ADC（TSADC）模式則允許用戶在單個圖像中捕獲3D樣本的所有細節。JEOL JSM 7200F擁有寬敞的200毫米舞臺,具有廣泛的運動控制.其完整的平面圖傾斜系統和6軸運動控制系統允許優化任何傾斜角度的成像。JSM 7200F通過其電動聚焦,可以跟蹤整個樣品表面,從而增強成像效果。JEOL JSM 7200F的高級功能包括用於抑制雜散束輻射的Beam Blanker、用於保持腔室清潔的自動碎片收集器以及用於保持樣品溫度穩定的集成冷卻系統。JSM 7200F將嚴謹的設計與尖端技術相結合，使其成為廣泛研究和工業應用的絕佳選擇。其精湛的成像能力、廣泛的分析工具和直觀的用戶界面，使其成為研究納米科學和其他材料（包括硬質和軟質）的理想工具。