二手 JEOL JSM 7400F #188813 待售

JEOL JSM 7400F是一種場發射掃描電子顯微鏡，設計用於超高分辨率成像和先進的納米級分析應用。JSM 7400F能夠對復雜結構表面分辨率低至1nm的樣品進行成像和分析。這種顯微鏡上的場發射源可以提供優異的圖像質量，並增加可達到的電流密度。其改進的陰極電流供應系統允許同時操作多個排放源，有助於提高整體性能。顯微鏡還提供了一大套輔助火炮和探測器，能夠進行高度選擇性的成像和分析。其中包括柱內雙軸能量濾波器和鏡內單軸低真空能量濾波器（LVEF）。JEOL JSM 7400F還為高級分析提供了大量附加功能。其高性能的EDX（能量色散X射線）和WDX（波長色散X射線）光譜儀使得獲得定性和定量的元素分析成為可能。除此之外，JSM 7400F還配備了飛行時間二次離子質譜儀（ToF-SIMS），用於分析原子和表面結構特征以及對樣品進行深度剖析。JEOL JSM 7400F提供了一套通用的軟件功能。Shimadzu EPMA Viewer軟件可以用來測量X射線圖像，FST Mapping可以專註於特定的能量範圍。此外,還可以選擇使用具有EPMA功能的自動掃描軟件,通過附加的模擬實現成像和分析過程的自動化。總而言之,JSM 7400F是一款先進的掃描電子顯微鏡,提供高分辨率成像、先進的納米級分析功能和廣泛的附加功能,使其成為尋求多功能、功能強大的SEM的用戶的絕佳選擇。