二手 JEOL JSM 7400F #9244470 待售

JEOL JSM 7400F是一種高性能的下一代掃描電子顯微鏡（SEM），用於各種材料科學的成像和分析。它具有高度可靠和通用的設計,具有許多高級功能。JSM 7400F的核心是電子束柱，它采用肖特基場發射槍（FEG）來產生高度穩定的電子束。柱由兩個獨立的掃描線圈驅動，允許對電子束位置和收斂進行精細控制。該柱還有一個內置的高張力源，可以用來產生各種成像模式，包括二次電子（SE）和反向散射電子（BSE），可以用來在屏幕上產生對比度。樣品中的微米級分辨率進一步增強了這一點。JEOL JSM 7400F的控制模塊具有強大的軟件，便於控制和自動化樣品定位和參數設置。它的交互式圖形用戶界面使配置專門的成像任務變得容易，使用方便的觸摸板控制儀器上提供的多個成像和分析包的使用。其中一些封裝包括能量色散X射線光譜（EDX）、X射線映射和電子反向散射衍射（EBSD）。該7400F還帶有自動校準功能，旨在確保精確的樣品定心和掃描精度。JSM 7400F的一個主要特點是效率，因為高效的過濾和冷卻特性減少了能源的使用。此外,它還配備了通風LED和閉環電氣接地系統,可確保非常低的噪音。儀器的安全特性包括緊急停止按鈕和激光安全聯鎖，在操作中斷時提供即時安全關閉。JEOL JSM 7400F是從材料科學研究到工業故障分析等廣泛應用的理想工具。它結合了高級功能、人體工程學設計和高性能,為研究人員和技術人員提供了可靠、強大的成像和分析工具。