二手 JEOL JSM 7400F #9272205 待售

JEOL JSM 7400F是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM），經常用於材料和表面科學等多種應用。它具有豐富的功能和可用性,包括高分辨率成像、元素微分析和3D地形重建。JSM 7400F的核心是一個電磁垂直場透鏡設備，它既能提供低至0.5 nm橫向分辨率的高分辨率成像，又能增強景深。該系統與高分辨率二次電子探測器協同工作，可實現樣品的最佳成像。與透鏡單元耦合的是一臺通用的X射線微分析機。這一工具使用戶能夠對各種能量範圍內的樣品進行非破壞性元素分析，這些能量範圍廣泛，從移到鈾（B-U）。JEOL JSM 7400F進一步利用具有高電流密度和優越穩定性的環境場發射槍，提供原始成像電子。這種步槍非常適合高對比度成像，非常適合成像和分析絕緣材料等樣品。此外，該單元還有一系列附件，如廣泛的真空壓力選項、幾個物鏡，以及一系列額外的用於EDX、WDX、BSD和其他分析的探測器。最後,JSM 7400F利用3D成像技術對樣品進行地形成像.此技術允許用戶從2D圖像創建3D重建,從而能夠準確了解曲面幾何和形態。3 D成像資產可以與高分辨率電鍍結合用於樣品制備，以獲得具有優越表面細節的高分辨率圖像。總之，JEOL JSM 7400F是一種用於樣品分析和成像的強大的掃描電子顯微鏡。它具有一系列特征，包括高分辨率成像、元素微分析以及用於對材料和表面進行詳細分析的3D地形重建。JSM 7400F通過其先進的特點和多用途的設計，成為各領域研究的絕佳工具。