二手 JEOL JSM 7400F #9384379 待售

JEOL JSM 7400F是一種現場發射掃描電子顯微鏡（FESEM），設計用於材料科學和生物研究的一系列應用。JSM 7400F是一種先進的FESEM,具有集成的超高真空（UHV）設備和用於精確元素分析的高分辨率、能量色散X射線探測器。顯微鏡的電子源是一種六硼化移場發射槍（FEG），提供高分辨率成像，降低操作成本。FEG由有源可變電子槍控制（VEGC）系統提供動力，該系統精確控制電壓、電流和槍角度以獲得最佳性能。強大的高分辨率靜電透鏡配有可變冷凝器光圈和磁場膜片，用於精確的圖像控制。JEOL JSM 7400F專為極高的信噪比而設計,提供前所未有的成像速度和靈敏度。它還提供了一種內置的低真空操作模式，允許與電氣和機械敏感樣品集成。能量濾波器提供的分辨率在0.9 eV以內，而柱內樣品室容納範圍廣泛的樣品，從最小到最重的材料，包括生物標本。顯微鏡是一種精確的分析儀器，用先進的X射線探測器提供準確可靠的測量。能量色散光譜（EDS）單元允許鑒定樣品的化學成分。集成波長色散光譜（WDS）機進一步提高了元素映射能力，靈敏度高，精度高。JSM 7400F能夠在一定溫度範圍內運行,從室溫（20 °C）到300 °C。它具有傳統的鏡頭內探測器，大的樣本室能夠同時成像與多個探測器。JEOL JSM 7400F的人性化設計還包括組織良好的用戶界面和導航控制臺，允許易於使用和精確控制。JSM 7400F是一種先進的高性能場發射掃描電子顯微鏡，設計用於各種材料和生物樣本的通用分析和成像。它使用先進的FEG和X射線探測器提供出色的成像分辨率、寬廣的樣品室以及可靠、準確的測試。JEOL JSM方便的用戶界面和精確的分析能力7400F使其成為當今科學研究的可靠、前沿的選擇。