二手 JEOL JSM 7401F #293750575 待售

JEOL JSM 7401F是一種用於高分辨率樣品成像和分析的掃描電子顯微鏡（SEM）。這種儀器的最大放大倍數可達400,000X，是解決許多不同類型材料微觀結構的有力工具。JEOL JSM-7401F提供超高真空和低真空模式的高質量成像，使其能夠產生有機和無機樣品的高度詳細的圖像和光譜數據。SEM以場發射槍電子源為特色，加上其FEG鏡頭提升了影像品質，降低了每次掃描的成本。該儀器具有較大的階段，非常適合對大的樣品區域進行成像和快速的樣品掃描。它有幾種成像模式，包括二次電子成像、反向散射電子成像，甚至陰極發光成像。SEM還能夠根據用戶的需要執行波長色散光譜（WDS）和能量色散光譜（EDS）。除了成像功能外，SEM還有一個導航系統，可以讓用戶快速導航大樣本區域。這個導航系統可以幫助尋找各種感興趣的領域，例如缺陷、缺陷，甚至樣本中特定元素的存在。該儀器還允許用戶以多種格式輕松存儲和評估其成像結果，從而在對同一樣本進行多次掃描時更容易進行數據比較。SEM具有板載PC,其內存容量大,便於數據管理和排序。此外，該儀器還與Windows OS兼容，以實現更高級的數據處理功能。綜上所述，JSM 7401 F是一種非常先進和強大的掃描電子顯微鏡，適用於成像許多不同類型的樣品。該儀器具有先進的成像功能、大舞臺、高質量的圖像分辨率和出色的數據管理選項,非常適合以最高的可用放大倍率解析微觀特征。