二手 JEOL JSM 7401F #293751819 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 7401F
ID: 293751819
優質的: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM) SM 34080 Lower detector device SM 36120 In-column faraday cup SM 34100 Integrated beam current measurements DE-IR Infrared video camera for sample chamber SM 74071 High-resolution backscatter detector SM 74130 STEM Detector for bright and dark field measurements Operating system: XP SP2 2007 vintage.
JEOL JSM 7401F是JEOL生產的掃描電子顯微鏡(SEM)。JEOL JSM-7401F是一種場發射槍SEM,能夠以高分辨率捕捉材料的詳細圖像。這種先進的SEM利用高性能場發射技術,結合了一個槍高壓(GHT)電源,一個電子能量選擇器,和一個Debri-prove腔室的優越成像。JSM 7401 F提供高分辨率二次電子(SE)成像和陰極發光(CL)成像,高分辨率、低電壓成像的樣品薄達50 nm。它還在15 kV時提供0.6 nm的高分辨率顯示,具有出色的對比度和分辨率。對於卓越的成像,JSM-7401F采用了高標準的5微米光斑尺寸和5微米色差校正設備(CAC)。此外,先進的SEM還為具有低能二次電子的成像應用場提供了更大的動態範圍。JSM-7401 F還具有強大的多束接口(CMBI)系統和多軸控制望遠鏡。這允許用戶優化適合任何材料和應用的成像條件。此外,多光束接口單元提供實時視頻掃描,允許快速掃描而不會出現圖像模糊。JEOL JSM 7401 F設計為用戶友好,並具有完全可配置的直觀圖形用戶界面。此接口使使用SEM更簡單、更易於學習。此外,SEM還支持一系列控制協議,包括以太網、VME和CAN。為了保證出色的成像和性能,JEOL JSM-7401 F配備了自動聚焦機構、光束輪廓控制機、側面照明模塊等先進功能。這些特性幫助用戶準確聚焦光束,獲得對比度和分辨率提高的樣本圖像。總體而言,JSM 7401F是一種用途廣泛、功能強大的掃描電子顯微鏡,適用於廣泛的材料和應用。它能夠在低壓下提供高分辨率圖像,對50 nm以下的樣品進行高性能成像,並提供有助於確保最佳成像的高級功能。
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