二手 JEOL JSM 7401F #293768228 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 7401F
ID: 293768228
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 7401F是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於檢查一系列材料和樣品。這臺儀器使用鎢絲(W)電子槍產生一束細小的電子束,然後將其聚焦並掃描穿過標本。掃描後,儀器收集並放大從樣品反向散射的信號,產生圖像.JEOL JSM-7401F有幾種先進的電子柱元件,包括球面像差校正器和可調節柱頭。Cs校正器控制電子能量的水平,而可調節的柱頭可以調整散光,從而提高圖像清晰度、對比度和分辨率。此外,JSM 7401 F的列連接到一個包含頻譜分析儀的列側面控制箱。這允許用戶調整掃描速度和圖像質量,同時提供有關光束亮度級別的反饋。JEOL JSM-7401 F粉末塗層鋁室的設計是為了保證操作安全以及操作過程中的穩定性。由電氣連接、泵送系統和安裝在腔室側面的鈦條組成的組合,可實現最佳樣品定位。此外,真空水平可以調節,以控制樣品的厚度。儀器還配備了幾個自動化功能;例如焦點穩定和光束跳動。這些功能有助於減少圖像捕獲過程中的用戶錯誤,同時提供一致的圖像質量。此外,機器的視頻處理器還能以每秒9幀的速度記錄圖像,這使得它成為適合快速收購的SEM。總之,JEOL JSM 7401 F是一種高性能掃描電子顯微鏡,能夠產生高分辨率的圖像。它的特點使得它適合廣泛的應用,從研究到工業用途。
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