二手 JEOL JSM 7401F #293770674 待售
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ID: 293770674
優質的: 2005
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM)
Does not include EDS
2005 vintage.
JEOL JSM 7401F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），允許對標本材料進行高分辨率成像和表征。這是通過使用在樣品上掃描的聚焦電子束來完成的。掃描的電子與材料相互作用，產生一個可以用來構造圖像的信號。SEM在高真空或高壓環境中運行,具體取決於所分析的樣品材料的類型。高真空模式創造了一個低噪聲的環境，以提高成像和表征的分辨率。在高壓模式下，提供壓力高達7 MPa的樣品環境，誘導材料變形、分解等各種現象。JEOL JSM-7401F還附有電子光柱，提供最小光斑大小為0.5nm的掃描電子束，以最大限度地提高成像分辨率。此外，它還包括一個列內槍換器，允許交換不同類型的電子槍，例如野外發射槍（FEG），用於廣泛的應用。SEM采用高速板系統構建，具有高精度XY級，最大掃描面積100 x 100mm，非常適合大面積快速成像。系統的光束加速電壓可以在0.5-30 kV之間，其光束電流在0.2-50 nA之間。系統還配備了專用信號處理器，每秒可獲取高達10千兆兆像素的信號數據。JSM 7401 F由計算機控制，具有集成的用戶友好圖形用戶界面，以提高用戶可訪問性。所有相關的成像和信號處理控制參數都可以通過界面進行調整，包括檢測和測量選項來分析不同的材料參數。最後,JSM 7401F具有軟件包,可實現許多分析和分析功能,包括地形成像、構圖成像、元素分析和3D建模。這種SEM是一種用途廣泛的儀器，可以應用於各個領域，比如材料科學、自然科學和半導體。
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