二手 JEOL JSM 7401F #9147359 待售
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ID: 9147359
Field emission scanning electron microscope (FE-SEM)
Resolution: 1.0nm (15kV), 1.5nm (1kV)
Magnification: 25x to 1,000,000x
Accelerating voltage: 0.1 to 30 kV
Probe current: 10^-13 to 2×10^-9 A
Electron gun: Cold field emission electron gun (Tungsten single crystal emitter)
Objective lens: Strongly excited low aberration conical lens
(3) Electron detectors:
Upper secondary electron in-lens detector (SEI)
Lower secondary electron detector (LEI)
Retractable backscattered electrons detector (RBEI)
IR Camera
Specimen chamber:
Diameter: 8"
Airlock type: 150 (Diameter) × 10 (Height) mm specimen holder
Specimen stage: Eucentric gioniometer stage
3-Axis computer controlled:
X-Y: 70×50mm
Rotation R: 360º
Manual handling of Z-axis: 1.5 up to 25mm
Tilt: -5° up to +70°
Specimen holders:
12.5 (Diameter) × 10(Height) mm
26 (Diameter) × 10(Height) mm
Wafer holders, 3"-4"
STEM Holder
Image process:
2/4 Divided display
Pseudo color
Image processing function (Sharpen, Gaussian, Smooth, Laplacian etc.)
Operating system: Windows XP
Supported image file formats: BMP, JPEG, TIFF
Vacuum system:
(3) Sputter ion pump units for Pgun~10-8Pa
DP-DP Series system
Fore-line trap for P specimen chamber ~ 10-5Pa
Oil rotary pump
2006 vintage.
JEOL JSM 7401F是一種常用於應用研究的掃描電子顯微鏡（SEM）。它以高質量的成像、精確的樣本分析、精確的測量而聞名。這種掃描電子顯微鏡因其高分辨率和允許放大倍率高達200,000倍而脫穎而出。JEOL JSM-7401F包含了諸如用於產生穩定光束的高加速電壓的野外發射槍（FEG）等功能，允許精確成像和分析。它還包含兩個檢測器-二級電子檢測器和反向散射電子檢測器-用於測量電子束與樣品之間的相互作用。這被稱為分析成像，是深入研究的有力工具。JSM 7401 F使用X射線探測器進行光譜，一種用於元素分析的技術。這有助於識別樣品中的元素並確定原子組成。X射線探測器還允許X射線掃描、光斑分析和EDX映射-所有這些都用於可視化化學分布。對於高速圖像捕獲,JEOL JSM-7401 F包含多個圖像捕獲組件。它配備了高分辨率CCD相機，產生的數字圖像噪音最小。「High Defocus」功能以更高的放大倍率提高圖像質量,快速掃描技術可用於生成三維圖像。除了成像和分析能力外，JSM-7401 F還以高精度級控制而聞名。它具有三個機動化自由度，以其較大的行進範圍可以處理一系列樣本量。也可以使用高分辨率控件旋轉和聚焦樣本。JSM 7401F是一種通用的掃描電子顯微鏡，可用於廣泛的應用。它可用於檢查樣品表面是否有缺陷或分析材料的組成和結構。通過將一系列分析技術與高質量成像相結合，JSM-7401F以最小的努力產生精確的結果。
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