二手 JEOL JSM 7401F #9229628 待售

JEOL JSM 7401F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），由JEOL設計制造，利用電子束產生樣品表面的高分辨率圖像。SEM的主要部件是電子槍，它由發射電子的燈絲、一個陽極和聚焦元件組成，使電子加速並聚焦成束。然後將光束定向到樣品上，並收集反射的電子以形成圖像。JEOL JSM-7401F具有高質量的電子柱，能夠在成像過程中達到穩定的性能。它還具有能色散光譜（EDS）檢測器，可以檢測產生的電子的能量。EDS檢測器使用戶能夠區分樣品中存在的各種元素,這對於材料分析非常有用。JSM 7401 F具有幾個特點，使得它既適合研發應用。其中一個特征是高分辨率成像（高達0.5nm）,這使得對曲面和內部結構進行詳細研究成為可能。SEM還具有較低的真空模式，使用戶能夠在較低的真空水平下運行，允許以相對較快的速度檢查非導電材料。除了成像能力外，SEM還有一個稱為可變壓力成像的功能。這使得操作條件從高真空變為低真空水平，然後電子可以在反射前進一步滲透到樣品中。JSM-7401F也被設計為方便用戶。SEM有一個數碼相機和一個顯示屏，用戶可以在掃描過程中輕松監控樣本。SEM也有一個自動化的階段，允許精確的樣品定位和掃描。總體而言，JEOL JSM 7401 F是一種高度通用的掃描電子顯微鏡，適用於電子顯微鏡、材料分析和表面研究的廣泛應用。它具有出色的成像能力和功能,旨在確保高效可靠的操作。