二手 JEOL JSM 7500F #293623399 待售

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製造商
JEOL
模型
JSM 7500F
ID: 293623399
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 7500F是一種具有高級分析能力和成像性能的掃描電子顯微鏡(SEM)。JEOL JSM-7500F具有從5倍到300,000倍的靈活放大倍率,可精確成像最精細的細節。高穩定可靠的JSM 7500F柱設計保證了精密圖像的高分辨率.JSM-7500F使用一系列高級成像技術進行詳細分析。這些包括常規的二次電子(SE)成像、反向散射電子(BSE)成像、X射線微分析和陰極發光(CL)成像。通過使用不同成像模式的組合,可以觀察樣品的組成、厚度和其他性質。JEOL JSM 7500F配備了真空室,設計用於在運行過程中保持高真空環境。這有助於防止對細膩樣品的熱損傷,並保持樣品的有機完整性。此外,SEM還具有低振動設計,可降低樣品漂移的風險並提高成像質量。顯微鏡使用直觀的用戶界面操作,允許用戶輕松瀏覽功能和設置。該軟件能夠自動操作,可以執行大量圖像,同時以圖像和統計數據的形式提供反饋。對於高級用戶來說,顯微鏡還與圖像處理軟件包等各種其他工具和附件兼容。JEOL JSM-7500F提供出色的圖像捕獲功能,並提供高速成像選項,用於捕獲樣品的快速變化。此外,JSM 7500F還支持許多高級自動化功能,如自主操作、示例交換和自動聚焦。這使得儀器適合各種應用,便於快速的樣品處理。簡而言之,JSM-7500F是一種靈活可靠的掃描電子顯微鏡,提供出色的成像和分析能力。憑借其直觀的用戶界面、強大的自動化功能和先進的成像技術,JEOL JSM 7500F是一個功能強大的研究工具,適用於任何希望對樣本進行詳細分析的人。
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